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    Electronique
    publié le 02/07/2009

    3,60 €

    Test fonctionnel des mémoires

    Document de 65 pages au format POWERPOINT

    RÉSUMÉ

    Test fonctionnel des mémoires : présentation et cours.

    PLAN

    I) Introduction

    - Principaux types de mémoires vives RAMs (Random Access Memories)
    - Principaux types de mémoires mortes ROMs (Read Only Memories)
    - Le test de mémoire
    - Parametric testing

    II) Modélisation de la mémoire

    - Modèle fonctionnel de RAM
    - Modèle fonctionnel de SRAM
    - Modèle fonctionnel de ROM

    III) Mécanismes de défaillances et modélisation de fautes

    - Défaillance, erreurs et fautes
    - Mécanismes de défaillance
    - Fautes Fonctionnelles
    - Modèle fonctionnel réduit
    - Fautes fonctionnelles réduites
    - Modèle de Faute : SAF
    - Modèle de Faute : Faute de Transition
    - Modèle de Faute : Fautes de couplage (2 cellules)
    - Modèle de Faute : FC d'Inversion
    - Modèle de Faute : FC idempotente
    - Modèle de Faute : FC d'état
    - Modèle de Faute : Fautes de court-circuit (BF
    - Modèles de Fault : Pattern Sensitive (PSF)
    - Modèles de Fautes : Neighborhood Pattern Sensitive (NPSF)
    - Modèles de Fautes : Fautes du décodeur d'adresse AF
    - Conditions pour détecter les fautes du décodeur d'adresse
    - Modèles de Fautes : Faute de Stuck-Open
    - Modèle de Fautes : Rétention de données (DRF)
    - Modèles de Fautes : Fautes liées
    - Relation entre fautes fonctionnelles et modèles de fautes (exemples)
    - Validité des modèles de fautes

    IV) Algorithmes de test pour RAM

    - Algorithmes de test : notations
    - Algorithmes de test
    - Algorithme de test : Zero-One
    - Algorithme de test : Echiquier (Checkerboard)
    - Algorithme de test : GALPAT et Walking 1/0
    - Temps de test
    - Les tests March
    - Tests March : exemple de MATS++
    - Tests March : Résumé
    - Taux de couverture des tests March (exemple)
    - Test des fautes NPSF
    - Test des mémoires organisées en mots
    - Test des mémoires organisées en mots

    V) Test des ROMs

    - Test de ROM
    - Test de ROM : méthode classique

    VI) BIST mémoire

    - Rappels sur le BIST
    - BIST de RAM basé sur des tests March
    - BIST de ROM

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    Electronique publié le 02/07/2009

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